• 變頻抗幹擾介質損耗測試儀原理
    變頻抗幹擾介質損耗測試儀原理

    變頻抗幹擾介質損耗測試儀(yi) 原理,測量過程由微處理器控製,隻要選擇好合適的測量方式,數據的測量就可在微處理器控製下自動完成; 一體(ti) 化機型,內(nei) 附標準電容和高壓電源,便於(yu) 現場測試,減少現場接線。

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