高壓開關(guan) 動特性測試儀(yi) 檢定裝置是用於(yu) 校驗高壓開關(guan) 測試儀(yi) 時間測量功能的專(zhuan) 業(ye) 儀(yi) 器，本文中將為(wei) 大家介紹高壓開關(guan) 動特性測試儀(yi) 校驗裝置的結構原理。
高壓開關(guan) 動特性測試儀(yi) 校驗裝置的總體(ti) 結構主要包括微處理器、交/直流輸入轉換、模/數轉換、識別電路、精密時基電路以及人機友好界麵顯示等部分，在硬件平台的基礎上，配備的軟件編輯，囊括了計算機技術、數字信號處理技術、檢測技術等，能夠的完成對高壓開關(guan) 動特性測試儀(yi) 電量輸出參量、開關(guan) 動作時間參量等功能的校驗工作。
由校驗裝置總體(ti) 結構圖可知，該校驗裝置中主要通過兩(liang) 個(ge) 處理通道來完成校驗任務。一個(ge) 是將電壓信號輸出送到衰減電路中，然後再送入A/D轉換電路中，通過光耦再送到MCU中進行運算處理，後通過LCD顯示結果，從(cong) 而完成對高壓開關(guan) 動特性測試儀(yi) 電量參量的校驗。另外一個(ge) 開關(guan) 動作信號通過輸入電路調整為(wei) 本電路相匹配的信號，然後輸送到識別電路，轉換成MCU可以識別出的數字信號，經過光耦後由MCU進行運算處理，對處理後的結果執行相應動作，然後對外輸出控製信號，以完成對開關(guan) 動作時間參量的校驗。人機友好界麵主要包括液晶顯示器和操作按鍵。
